Статья «Исследование особенностей микроструктуры монокристаллического бора, "Кристаллография"»

Представлены результаты комплексных исследований структуры монокристалла ?-модификации бора, выращенного методом зонной плавки и по своим размерам существенно превосходящего встречающиеся в литературе аналоги. Исследования включают в себя рентгеноструктурный анализ, рентгеновскую дифрактометрию (измерение полюсных фигур и кривых дифракционного отражения), проведенные как на лабораторных, так и на синхротронных источниках, просвечивающую растровую электронную микроскопию атомного разрешения с коррекцией сферической аберрации, а также энергодисперсионный микроанализ. Методом рентгеноструктурного анализа с использованием синхротронного излучения уточнена структура ?-бора, а также обнаружены примесные атомы Si. Относительные вариации параметров ячейки , в объеме кристалла составляют ?/ ? 0.4, ?/ ? 0.1%. Методом рентгеновской дифрактометрии установлено, что ось роста монокристалла совпадает с кристаллографической осью [] и составляет с осью третьего порядка [0001] угол 21.12°. Исследования методами электронной микроскопии подтвердили тот факт, что образец представляет собой монокристалл ?-бора с возможной примесью 0.3–0.4 ат. % Si. Были обнаружены плоские дефекты, представляющие собой дефекты упаковки и дислокации. Результаты дополнительных измерений температурной зависимости теплопроводности кристалла в интервале 50–300 K свидетельствуют о высокой степени структурного совершенства исследуемого монокристалла.