ハロゲン消滅型G-M管の後効果パルスをパルス状放射線を用いて測定した。その結果ハロゲン消滅型G-M管の後効果は放射線強度依存性がなく, 主放電数と陽極電圧に依存する短時間後効果が主で長時間後効果を示す有機消滅型G-M管とは異なる後効果特性を示した。またBr₂ガス封入量をかなり少なくしても消滅効果を減少させることなく後効果発生率を低下させることができ, 適当な補正方法を採用することにより, 比較的高い放射線強度下で長時間安定な計数を期待する場合は, ハロゲン消滅型G-M管が有機消滅型G-M管より有利であることである.