まてりあ
Online ISSN : 1884-5843
Print ISSN : 1340-2625
ISSN-L : 1340-2625
STMを用いた半導体中の単一点欠陥挙動の原子レベル観測
前田 康二飛田 聡目良 裕
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2004 年 43 巻 8 号 p. 667-672

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© 社団法人 日本金属学会
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