X線光電子分光法(XPS)による固体表面の定量的分析(標準試料を使用しないで濃度の相対比を求める方法)により表面層並びに表面下のある範囲の層の組成が決定できることを示した.ただし,固体表面層中2組以上の元素からの電子線の運動エネルギーが非常に近いスペクトル線同士が2種以上測定できる場合は非常に単純な計算となる.沈殿反応など表面層での反応の様子もXPSである程度定量的に測定できることも知られた.