SOFCは高温での長時間耐久が重要課題である。現状、ラマン分光によって電解質劣化原因の解析が行われている。しかし、高精度で定量的な構造解析がなされていない。本研究では放射光X線を用いて、600、800℃にてアニールした電解質材料の精密構造解析を行った。 電解質材料を焼結させ、600℃、800℃、空気中にて500、1000、2000時間アニールを行った。サンプルを乳鉢で粉砕し、SPring-8,BL19B2にて回折測定を行った。（重点産業利用課題2008B1877）リートベルト、MEM解析にRIETAN-FP、PRIMAを用いた。 YSZは空間群Fm-3mに帰属され、R因子から高精度で解析されたことがわかる。しかし、酸素サイトのUisoに関して、通常の8cサイトで解析すると0.03を超え、通常の3倍となった。よってサイト分割し対称性を下げ、Uisoを低下させた。
