極低温パッシブ近接場光顕微鏡を用いた電流印加グラフェン細線上の熱分布計測

杉村 怜哉; 四宮 雅貴; 林 冠廷; 梶原 優介

doi:10.11522/pscjspe.2023A.0_599

2023年度精密工学会秋季大会

DOI https://doi.org/10.11522/pscjspe.2023A.0_599

会議情報

主催: 公益社団法人精密工学会

会議名: 2023年度精密工学会秋季大会

開催地: 福岡工業大学

開催日: 2023/09/13 - 2023/09/15

極低温パッシブ近接場光顕微鏡を用いた電流印加グラフェン細線上の熱分布計測

*杉村怜哉, 四宮雅貴, 林冠廷, 梶原優介

著者情報

キーワード: グラフェン, 熱分布計測, パッシブ近接場光顕微鏡

会議録・要旨集認証あり

p. 599-600

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抄録

グラフェンは半導体デバイスのさらなる微細化や高性能化への応用が期待されており，電流を印加したときの熱分布特性を計測することは，グラフェンの特性を理解するために重要である．物質表面に局在する温度情報をもった熱励起エバネッセント波をナノスケールで検出する技術を用いて，5K環境下にて，電流を印加したときの熱分布特性についてパッシブ計測を試みたので報告する．

責任著者(Corresponding author)

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