主催: 公益社団法人精密工学会
東京大 工学系研究科 精密工学専攻
産総研
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高精度三次元測定機(M-CMM)の開発のためには,ステージの運動学誤差の評価が重要である.本研究ではそのための校正手法として,走査ステージの運動学誤差と参照ミラー形状を分離できる多点法を提案する.前報では,ヨーイング誤差に由来する系統誤差を確認した.本報ではヨーイング誤差およびアライメント誤差からなる非線形項を補正することで,系統誤差を低減する.
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