計測自動制御学会 部門大会/部門学術講演会資料
第34回 計測自動制御学会北海道支部学術講演会
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LCD欠陥検査の自動化に関する研究
上野 和晃崔 龍雲伊与田 健敏渡辺 一弘久保田 譲
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p. 37

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抄録

カラー液晶ディスプレイの目視による検査は, 検査者によって評価基準に曖昧さがある. そこで本研究では, 複数台のカメラと専用処理装置を用いたLCD欠陥検査装置の開発を目指す. この構成は, LCDの大型化, 装置の高コスト化に対して, 有利であると考えられる. 本文では, LCD画面を複数に分割して撮像した部分画像から, 自動的に欠陥画素の位置を特定するまでの処理手順と実験結果について述べる.

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