マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集
Online ISSN : 2434-396X
第32回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
会議情報

主催: 一般社団法人エレクトロニクス実装学会

第32回マイクロエレクトロニクスシンポジウム
ＡE（音響）法を用いたダイアタッチ構造部の欠陥発生のその場観測と劣化診断の試み
*末武 愛士, 張 政, 陳 伝トウ, 片山 理, 杉浦 和彦, 鶴田 和弘, 菅沼 克昭
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会議録・要旨集 認証あり

p. 141-144

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