近接場プローブおよびその顕微鏡はエバネッセント光を用いた新しいタイプの計測法および顕微鏡であり、光波長以下の寸法の試料を超高分解能で観測することができる。近接場顕微鏡は、先端の鋭いプローブを試料表面に沿って走査しながら散乱光パワーを測定し、プローブの位置とパワーの関係をグラフ化することで試料表面の形状を表現できる。また、分解能はプローブ先端の寸法に依存する。また、細胞に損傷を与えること無く計測が可能になるため、細胞膜をはじめとした細胞の活動状態を微小領域で観察するための最適な計測法および顕微鏡であると考えられる。近接場顕微鏡はプローブの特性が重要であるため、本研究ではビーム伝搬法(BPM)を用いてプローブの光伝搬解析を行い、テーパ形状プローブ内および放射端付近の光伝搬の基本特性を解析した。