応用物理
Online ISSN : 2188-2290
Print ISSN : 0369-8009
逆光電子分光
佐川 敬
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1986 年 55 巻 7 号 p. 677-685

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抄録

最近,固体バルクと表面の電子状態の研究手段の一つとして,逆光電子分光が脚光を浴びている.この方法は,X線の分野で制動放射等色線分光と呼ばれていた方法を,真空紫外に拡張したもので,占有されない電子状態の知見が得られるという特色をもち,占有状態を観測する光電子分光の逆過程なので,逆光電子分光とも呼ばれる.正逆両分光法を併用すれば,物性的に重要なフェルミ準位の上下にまたがる電子的構造の全貌が直接見られる.この分野には最近,いくつかの注目すべき進展があったが,他方,なお克服すべき課題も残されている.本稿では逆光電子分光の原理と現状,および問題点を概観する.

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© 社団法人 応用物理学会
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