蛍光X線ホログラフィー法による希薄磁性半導体ZnSnAs<sub>2</sub>:Mn薄膜のMn置換サイトの解析

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第59回春季応用物理学関係連合講演会

セッションID: 15p-F3-10

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2012.1.0_190

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 春季応用物理学関係連合講演会

回次: 59

開催地: 早稲田大学

開催日: 2012/03/15 - 2012/03/18

蛍光X線ホログラフィー法による希薄磁性半導体ZnSnAs₂:Mn薄膜のMn置換サイトの解析

*山神圭太郎, 林好一, 内富直隆, 八方直久, 竹原祐紀, 細川伸也, Hu Wen, 鈴木基寛

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キーワード: 15p-F3-10, シンポジウム, ３Ｄ原子イメージング技術の新展開, Chalcopyrite, 希薄磁性半導体, 蛍光X線ホログラフィ

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