日本物理学会講演概要集
Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803
セッションID: 18aK33-8
会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2017年度日本物理学会第72回年次大会

開催日: 2017/03/17 - 2017/03/20

ミューオニウム超微細構造精密測定実験における系統誤差の評価および改善
瀬尾 俊, 青木 正治, 深尾 祥紀, 東 芳隆, 樋口 嵩, 飯沼 裕美, 池戸 豊, 石田 勝彦, 伊藤 孝, 岩崎 雅彦, 門野 良典, 上垣外 修一, 神田 聡太郎, D. Kawall, 河村 成肇, 幸田 章宏, 小嶋 健児, 久保 謙哉, 松田 恭幸, 松舘 拓也, 三部 勉, 三宅 康博, 水谷 丈洋, 永嶺 謙忠, 西村 昇一郎, 荻津 透, 大久保 隆治, 齊藤 直人, 佐々木 憲一, 上野 恭裕, 下村 浩一郎, P. Strasser, 菅野 未知央, 田島 美典, 田中 陶冶, 田中 香津生, 友野 大, 鳥居 寛之, 鳥養 映子, 豊田 晃久, 上野 一樹, 八木 大介, 山本 明, 吉田 光宏
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キーワード: 物理, ミューオンの物理
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抄録

MuSEUMグループはJ-PARCにてミューオニウム（Mu）の超微細構造（HFS）精密測定実験を進行中である。ミューオニウムは正ミューオンと電子のレプトン二体系であり、MuHFS精密測定は束縛系QEDの検証に適している。測定の主要な系統誤差を予備測定および数値計算から評価し、測定精度の向上を目指している。本講演では、系統誤差の評価および改善に向けた装置開発について報告する。

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