表面において誘起される軌道秩序の実空間観察

吉田 靖雄; Howon Kim; Chi-Cheng Lee; Tay-Rong Chang; Horng-Tay Jeng; Hsin Lin; 芳賀 芳範; 立岩 尚之; Zachary Fisk; 長谷川 幸雄

doi:10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2480

セッションID: 16aAJ-4

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_2480

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主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2016年度日本物理学会秋季大会

開催日: 2016/09/13 - 2016/09/24

表面において誘起される軌道秩序の実空間観察

吉田靖雄, Howon Kim, Chi-Cheng Lee, Tay-Rong Chang, Horng-Tay Jeng, Hsin Lin, 芳賀芳範, 立岩尚之, Zachary Fisk, 長谷川幸雄

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キーワード: 表面界面電子物性, 無機化合物, 走査プローブ顕微鏡法

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抄録

電荷・スピンの自由度に加えて電子軌道の自由度に起因する、軌道秩序や軌道ゆらぎによる超伝導といった興味深い物理現象が近年注目を集めている。本講演では、電子相関の強い金属間化合物CeCoIn_5の劈開表面に対して、高精度に試料—探針間距離を制御したSTM測定を行い、表面のみで誘起される新しいタイプの軌道秩序の観察に成功したので、その詳細について報告する。

責任著者(Corresponding author)

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