パイロクロア型ニオブ酸化物におけるX線誘起構造相転移

阿部 伸行; 藤間 友理; 豊田 新悟; 佐賀山 基; 有馬 孝尚

doi:10.11316/jpsgaiyo.71.2.0_1981

抄録

幾何学的なフラストレーションを有するパイロクロア型ニオブ酸化物では、複数のNb^4+^がシングレットを組むことにより非磁性絶縁体となっていることが提案されている。実際に単結晶X 線回折実験を行うとNb^4+^がパイロクロア格子から変位することに由来した散漫散乱が観測される。本発表ではDy_2_Nb_2_O_7_において、X線照射によって散漫散乱強度が減少することを発見した。これはX線照射によってシングレットの組み換えが生じていると考えられる。