题名：基于平移拾取分选机双列直插封装集成电路测试可行性设计

作者：唐震;黄大伟;

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出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

出版年:

DOI码：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0711

注册时间：2020-07-22 15:03:48

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