主催: 日本表面科学会
東大理
産総研
KEK-PF
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その応用性が注目されているチオフェン(C4H4S)でも特に、基板上に分子を規則正しく配向させることができるチオフェン自己組織化膜(SAM)に関する基礎的な情報は重要である。しかしその吸着構造に関しては不明な点が多く、成膜法の違いによって薄膜の構造が変化している可能性も示唆された。そこで本研究では、湿式法によって金基板上のチオフェンSAMを作成し、XPS、NEXAFSスペクトルを測定することからその吸着構造を考察した。
日本表面真空学会学術講演会要旨集
表面科学学術講演会要旨集
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