有機デバイスの性能はデバイス中の有機/無機界面の構造や電子状態に大きく依存する。この点に関連して、本公演では、無機基板上のフタロシアニンのミグレーション/拡散による薄膜ミクロ構造の消失やPTCDA上での金属原子の異方性拡散など、有機半導体薄膜の成長、分子拡散や有機半導体上の金属原子の振る舞いについて光電子顕微鏡（PEEM）、準安定励起原子電子放射顕微鏡（MEEM）によって研究した結果を紹介する。