题名：半导体制冷元器件性能参数测试实验研究

作者：黄双福;刘曦;袁俊威;

来源：

出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

出版年:

DOI码：10.13738/j.issn.1671-8097.021068

注册时间：2021-12-10 03:05:58

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