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题名：
基于动态长短期记忆网络的设备性能退化预测方法
作者：
卫炳坤;王庆锋;刘家赫;张田雨
来源：
北京化工大学学报(自然科学版)
出版机构：
北京化工大学学报编辑部
出版年:
2020
DOI码：
10.13543/j.bhxbzr.2020.06.012
注册时间：
2021-04-02 17:04:40
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