题名：基于泄漏电流特征信息及概率神经网络的绝缘子污秽度预测模型

作者：汪万平;陈伟根;刘凡;苏明虹;

来源：

出版机构：同方知网（北京）技术有限公司

出版年:

DOI码：10.13296/j.1001-1609.hva.2017.09.034

注册时间：2017-10-14 15:12:42

以下是您获得的URL地址： https://link.cnki.net/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2017.09.034(境内) https://link.oversea.cnki.net/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2017.09.034(境外)