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テクネチウムの誘導結合プラズマ発光スペクトル測定

Measurement of technetium emission lines by inductively coupled plasma emission spectrometry

渡部 和男; 福島 弘之

Watanabe, Kazuo; not registered

誘導結合プラズマ発光分析法によるテクネチウムの検出、定量のためICP発光スペクトルを波長160~460nmの領域で測定した。強度の大きいスペクトル線は、ほとんどが230~280nmの紫外部にあり、真空紫外部にはないことを確認した。最大強度を示すスペクトル線は、波長が254.32nmであり、この線を分析に用いた場合の3$$sigma$$検出限界は2ng ml$$^{-1}$$であった。最も強度の大きいスペクトル線3本(254.32nm、261.00nm、264.70nm)について、他元素(32元素)によるスペクトル干渉を定量的に調べ、鉄、モリブデン、タングステン及びウランの5元素が3波長全てに干渉することを明らかにした。

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