На установке, созданной на базе бетатрона Б-18, исследованы свойства жесткого тормозного излучения, генерированного при скользящем падении электронов с энергией 18 МэВ на поверхность тонкой танталовой фольги толщиной 13 мкм и длиной 2.5 мм. Фольга установлена в гониометре внутри камеры бетатрона для получения ориентационной зависимости генерированного излучения. Выявлена сильная зависимость угловых распределений жесткого тормозного излучения от ориентации тонкой мишени, что не наблюдается при нормальном падении электронов на ее поверхность. При использовании генерированного излучения получены увеличенные изображения эталона Duplex IQI и объекта, состоящего из тонких слоев различных материалов. Исследован вклад абсорбционного и краевого фазового контрастов в формирование изображений проволочных структур эталона и плоских границ раздела сред в сложном объекте. Показано, что качественные изображения объектов реализуются за счет малого горизонтального размера источника излучения, который составляет 13 мкм для излучения, испускаемого вдоль мишени, и возрастает при увеличении угла эмиссии излучения.

The properties of hard bremsstrahlung generated at grazing incidence of 18 MeV electrons on a surface of 13 μm thick and 2.5 mm long tantalum foil are studied using the facility based on the B-18 betatron. Tantalum foil is placed in a goniometer inside the betatron chamber to obtain the orientational dependence of generated radiation. A strong dependence of the angular distributions of hard bremsstrahlung on thin target orientation is revealed, which is not observed at normal incidence of electrons on its surface. Using the generated radiation, magnified images of the Duplex IQI standard and an object consisting of thin layers of different materials are obtained. The contribution of absorption and edge phase contrasts to the formation of images of the etalon wire structures and planar interfaces in a complex object is studied. The high-quality images of objects are shown to be obtained due to the small horizontal size of the radiation source, which is 13 μm for radiation emitted along the target and increases with increasing in the emission angle.