Zusammenfassung
Auf Grund der steigenden Schaltgeschwindigkeiten integrierter Schaltkreise ist das Schaltverhalten von MOS-Transistoren von größter Bedeutung für den Bauelementhersteller. MOS-Transistoren finden nicht nur in herkömmlichen CMOS- Logik-Schaltungen Verwendung, sondern auch in Leistungsbauelementen (z.B: MOS gesteuerten Thyristoren). Wir zeigen daher eine vollständige zwei dimensionale transiente Simulation des Ein- und des Ausschaltvorganges eines planaren MOS- Transistors mit einer Kanallänge L e ff=0.7μm. Die Simulation wurde mit dem Device Simulator BAMBI durchgeführt, der die drei Halbleitergleichungen mit Hilfe eines Newton- Algorithmus auf einem Rechteckortsgitter und einem Zeitgitter simultan löst [1,2].
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Literaturverzeichnis
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Kausel, W., Nanz, G., Selberherr, S., Pötzl, H. (1987). Zwei-Dimensionale Transiente Simulation des Einschaltverhaltens eines Planaren MOS-Transistors. In: Mikroelektronik 87. Springer, Vienna. https://doi.org/10.1007/978-3-7091-8940-5_15
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DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-7091-8940-5_15
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