Zusammenfassung
Ein neuartiges Entfernungsmeßverfahren auf der Basis eines Halbleiterlaser-Interferometers wird vorgestellt. Die Laserdiode wird dabei über ihren Injektionsstrom in der Wellenlänge stochastisch moduliert. Dadurch entsteht ein zeitlich veränderliches Überlagerungssignal auf dem Photodetektor, dessen mittlere Frequenz vom Laufzeitunterschied in den Interferometerarmen abhängt. Die Zielentfernung (Laufzeitunterschied) wird bestimmt, indem diese mittlere Frequenz mit einer Komparator-Frequenzzähler-Kombination gemessen wird. In ersten Experimenten konnten Zielentfernungen von 0,05–1,5 m mit relativen Meßfehlern < 0,5% erfaßt werden. Begründete Möglichkeiten zur Verringerung des Meßfehlers werden angegeben.
Access this chapter
Tax calculation will be finalised at checkout
Purchases are for personal use only
Preview
Unable to display preview. Download preview PDF.
Literatur
G. Beheim, K. Fritsch, Electr. Lett., Vol. 21, 3, pp. 93–94, 1985
F. Bien, M. Carnac, H. J. Caulfield, and S. Ezekiel, Appl. Opt., Vol. 20, 3, pp. 400–403, 1981
P. de Groot, Appl. Opt., Vol 30, 25, pp. 3612–3616, 1991
B. M. Horton, Proceedings of the IRE, 47, pp. 821–828, 1959
A. Papoulis;; “Probability Random Variables and Stochastic Processes”, McGraw-Hill, 1991
K. Peterman;; “Laser Diode Modulation and Noise”, Kluwer Academic Publishers, 1988
W. Holzapfel; W. Baetz; J. C. Braasch; Proccedings on SPIE-International Symposium on Optical Instrumentation and Applied Science: Conf. 2000 Current Developments in Optical Design and Optical Engineering III, San Diego 1993
M. Hölscher, W. Holzapfel; Proceedings on SPIE-International Symposium on Optical Instrumentation and Applied Science: Conf. 2000 Current Developments in Optical Design and Optical Engineering III, San Diego 1993
Author information
Authors and Affiliations
Editor information
Editors and Affiliations
Rights and permissions
Copyright information
© 1994 Springer-Verlag Berlin Heidelberg
About this paper
Cite this paper
Braasch, J.C., Holzapfel, W. (1994). Entfernungsmessung mit stochastisch-frequenzmoduliertem Halbleiterlaser-Interferometer. In: Waidelich, W. (eds) Laser in der Technik / Laser in Engineering. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-662-08251-5_57
Download citation
DOI: https://doi.org/10.1007/978-3-662-08251-5_57
Publisher Name: Springer, Berlin, Heidelberg
Print ISBN: 978-3-540-57444-6
Online ISBN: 978-3-662-08251-5
eBook Packages: Springer Book Archive