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Momentenbasiertes affin-invariantes Fitting von Ellipsensegmenten

  • Conference paper
Mustererkennung 1995

Part of the book series: Informatik aktuell ((INFORMAT))

  • 178 Accesses

Zusammenfassung

In dieser Arbeit beschreiben mr einen neuen Zugang zum Problem der optimalen Anpassung von Ellipsen an Kontursegmente. Anders als allgemein aus der Literatur bekannt, wird statt einer optimalen Anpassung an die vorgegebene Punktmenge eine Anpassung an das durch das Kontursegment beschriebene Flächensegment durchgeführt. Auf Grund der numerischen Stabilität der flächenbasierten Momeme und einer affin-invarianten Standardlage des Flächensegmentes liefert dieses neue Fitting die Invarianz der erhaltenen optimalen Ellipse gegenüber affinen Transformationen. Selbst wenn die Punktmenge ein allgemeines Kurvensegment beschreibt, wird eine Ellipsenanpassung erzwungen. Durch die Standardlage des Flächensegmentes ist es möglich, ein normiertes Maß anzugeben, welches eine stabile bzw. instabile Anpassung bewertet. Bezüglich des numerischen Aufwandes ist lediglich ein eindimensionales Optimierungsproblem zu lösen. Experimentelle Untersuchungen demonstrieren die Güte der vorgestellten neuen Methode.

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Literatur

  1. F. L. Bookstein: Fitting conic sections to scattered data. CVGIP 9 (1979) 56–71

    Google Scholar 

  2. D. Forsyth, J. L. Mundy, A. Zisserman, C. M. Brown: Projectively invariant representations using implicit algebraic curves. Image Vision and Computing 8 (1990) 130–126

    Article  Google Scholar 

  3. R. M. Haralick, L. G. Shapiro: Computer and Robot Vision. Addison-Wesley, 1992

    Google Scholar 

  4. C. Ho, L. H. Chen: A fast ellipse/circle detector using geometric symmetry. Pattern Recognition 28 (1995) 117–124

    Article  Google Scholar 

  5. Joseph S. H.:Unbiased least squares fitting of circular arcs. CVGIP 56 (1994) 424–432

    Google Scholar 

  6. D. Kapur, J. L. Mundy: Fitting affme invariant conics to curves. In: J. L. Mundy, A. Zisserman (eds.): Geometric Invariance in Computer Vision. MIT Press ,1992, pp. 252–273

    Google Scholar 

  7. K. Kanatani: Statistical analysis of geometric computation. CVGIP 59 (1994) 286–306

    Article  Google Scholar 

  8. K. Kanatani: Statistical bias of conic fitting and renormalization. IEEE Trans. PAMI-16 (1994)

    Google Scholar 

  9. J. Porill: Fitting ellipses and predicting confidence envelopes using a bias corrected Kaiman filter. Image Vision and Computing 8 (1990) 37–41

    Article  Google Scholar 

  10. G. Roth: Extracting geometric primitives. CVGIP 58 (1993) 1–22

    Article  Google Scholar 

  11. P. D. Sampson: Fitting conic sections to very scattered data. CVGIP 18 (1982) 97–108

    Google Scholar 

  12. R. Saafee, K. C. Smith, B. Benhabib, I. Tchoukanov: Application of moment and Fourier descriptors to the accurate estimation of elliptical shape parameters. IEEE Trans. PAMI-4 (1992) 2465–2468

    Google Scholar 

  13. S. Tsuji, F. Matsumoto: Detection of ellipses by a modified Hough Transformation. IEEE Trans. C-27 (1978) 777–781

    Google Scholar 

  14. K. Voss, H. Süße: Adaptive Modelle und Invarianten für zweidimensionale Bilder. Shaker Veriag, Aachen 1995

    Google Scholar 

  15. H. K. Yune, J. Illing worth, J. Kitüer: Detecting partially occluded ellipses using Hough Transform. Image Vision and Computing 7 (1989) 31–37

    Article  Google Scholar 

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Voss, K., Suesse, H. (1995). Momentenbasiertes affin-invariantes Fitting von Ellipsensegmenten. In: Sagerer, G., Posch, S., Kummert, F. (eds) Mustererkennung 1995. Informatik aktuell. Springer, Berlin, Heidelberg. https://doi.org/10.1007/978-3-642-79980-8_2

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