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Detection and characterization of inclusions in impedance tomography

Schmitt, Susanne

Abstract:

The topic of this work are two further developments of the Factorization method for electrical impedance tomography.
We present a modification of this method that is capable of detecting mixed inclusions, i.e. both inclusions with a higher as well as inclusions with a lower conductivity than the background medium. In addition, we derive a new method to compute the conductivity inside inclusions after they have been localized.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000021838
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Algebra und Geometrie (IAG)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-635-9
urn:nbn:de:0072-218386
KITopen-ID: 1000021838
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang VIII, 135 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Mathematik (MATH)
Institut Institut für Algebra und Geometrie (IAG)
Prüfungsdaten 22.12.2011
Schlagwörter Inverse Problem, Electrical Impedance Tomography, Factorization Method
Relationen in KITopen
Referent/Betreuer Kirsch, A.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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